https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/303335
標題: | An analysis of the kink phenomenon of scattering parameter S22 in RF power MOSFETs for system-on-chip (SOC) applications | 作者: | SHEY-SHI LU | 公開日期: | 2003 | 卷: | 36 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 371-376 | 來源出版物: | Microwave and Optical Technology Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0037420174&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/303335 |
DOI: | 10.1002/mop.10767 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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