https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381392
標題: | Function of the Upper/Lower Parasitic BJTs in 40nm PD SOI NMOS Device due to the Back-Gate Bias Effect | 作者: | A. P. Chuang S. I. Su Z. H. Yang J. B. Kuo D. Chen C. S. Yeh JAMES-B KUO |
公開日期: | 一月-2013 | 來源出版物: | EUROSOI | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381392 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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