https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429670
標題: | SDC-TPG: A deterministic zero-inflation parallel test pattern generator | 作者: | C.-H. Chang K.-W. Yeh J.-L. Huang L.-T. Wang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 2015 | 來源出版物: | Asian Test Symposium | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429670 | ISSN: | 10817735 | DOI: | 10.1109/ats.2015.15 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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