https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/324145
標題: | Intelligent process diagnosis based on end-of-line electrical test data | 作者: | Guo, Ruey-Shan Tsai, Cheng-Kai Lee, Jian-Huei Chang, Shi-Chung SHI-CHUNG CHANG |
公開日期: | 1996 | 起(迄)頁: | 347-354 | 來源出版物: | IEEE/CPMT International Electronic Manufacturing Technology (IEMT) Symposium | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0030385243&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/324145 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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